公司动态 - Nova的Nova Metrion®平台被全球领先的存储器制造商选中，用于其最先进的DRAM研发以及DRAM和NAND高容量生产线 [1] - 公司预计随着该制造商扩大其在线计量能力，将获得更多订单 [1] 技术优势 - Nova Metrion®通过允许在线SIMS（二次离子质谱）测量下一代设备的材料成分深度剖面，提供更严格的工艺控制并提高产量 [2] - 该平台能够对外延层进行全晶圆测量，具有高灵敏度和精度 [2] - Nova Metrion®突破性技术能够对复杂且关键的多层薄膜进行先进的工艺控制 [3] - 该平台专为高容量制造环境设计，提供具有高深度分辨率和精度的定量和可操作结果 [3] - Metrion®引入了独特的在线成分分析能力，用于关键工艺控制测量，包括掺杂浓度、污染、残留和扩散，这些无法通过其他测量技术获得 [3] 行业趋势 - 实验室和制造环境之间的差距正在成为下一代设备制造的关键因素 [4] - 材料工艺控制在先进存储器和逻辑设备中的需求日益增加 [4] 公司背景 - Nova是半导体制造中先进工艺控制的材料、光学和化学计量解决方案的领先创新者和关键供应商 [4] - 公司通过提供最先进的高性能计量解决方案，在整个半导体制造生命周期中实现有效的工艺控制 [4] - Nova的产品组合结合了高精度硬件和尖端软件，为客户提供深入洞察，以开发和制造最先进的半导体设备 [4] - 公司独特的创新能力使客户能够提高性能、增强产品产量并加速上市时间 [4] - Nova在全球设有办事处，作为半导体制造商的合作伙伴 [4]