人工智能存储技术 - 固态硬盘(SSD)因其卓越的读写速度与稳定性成为AI基础设施的关键组件，支撑智能推荐系统实时数据处理和深度学习模型参数训练 [1] - 中子辐射引发的比特翻转问题威胁AI数据安全与系统稳定性，可能导致数据错误、模型训练偏差甚至系统崩溃 [1][2] 中子辐照测试背景 - 中子作为不带电亚原子粒子广泛存在于宇宙射线、高海拔地区等环境，穿透SSD存储单元可能导致比特值意外翻转 [2] - 忆联是国内唯一高分通过中子辐照测试的SSD厂商，联合中国散裂中子源在远超地面辐射量的模拟环境下实测PCIe Gen5 ESSD UH812a可靠性 [2] - 中国散裂中子源是国际前沿的大型研究平台，其大气中子辐照谱仪可为航空、电力电子、智能驾驶等领域提供电子元器件中子单粒子效应测试服务 [3] 测试产品与环境 - 测试选取忆联UH812a及国际友商A、国内友商B同代际产品，在相同中子注量率(9.610⁴n/(cm²·s))下持续辐照至失效 [4][5] - 测试中子注量率达阿里地面条件(5.0910²n/(cm²·h))的68万倍，模拟宇宙射线峰值环境 [5] 测试关键结果 - 忆联UH812a实际运行时间416秒，比国内友商B长60%，比国际友商A长400%，超出5年使用寿命等效时长(232秒)79% [9] - UH812a平均每小时故障率3.22E-06，低于上一代产品(4.18E-06)和友商同代产品(6.95E-06) [11] 数据保护技术 - UH812a采用增强LDPC纠错算法实现小于1E-18的不可修复错误比特率，智能ECC模式纠正中子辐射引发的比特翻转，UNC保护模式隔离不可纠正错误区域 [12] - 多重技术组合可最大限度降低数据丢失风险，为大模型训练等AI业务构建存储安全屏障 [14] 高海拔数据中心应用 - 高海拔数据中心易受中子影响导致数据错误，采用通过中子测试的ESSD可降低SSD失效率，保障AI应用稳定运行并降低用户TCO [15] - UH812a能减少运维成本及人力，确保智能决策系统等AI应用数据真实性与完整性 [15] 行业展望 - 公司将持续优化AI存储技术，为AI时代提供更安全高效的存储解决方案 [16]