会议核心信息 - 仪器信息网将于2025年10月23-24日举办第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会 [2] - 会议旨在促进中国半导体材料、器件及装备技术的自主创新与国产化替代 [2] - 会议聚焦四大核心专题：第三代半导体材料结构与缺陷分析、材料成分与微污染控制、器件性能与可靠性评测、国产半导体检测仪器技术突破 [2] 第三代半导体材料缺陷、结构与表面界面分析新技术（10月23日上午） - 议题包括新型半导体材料缺陷调控和载流子输运表征、氮化物半导体极性调控原子尺度研究、二维半导体材料与基底耦合作用的调控研究等 [4] - 演讲嘉宾来自武汉大学、北京大学、中国科学院大连化学物理研究所、厦门大学、华中科技大学等学术机构及福建鑫图光电有限公司等企业 [4] 半导体材料成分分析与微污染控制技术及应用（10月23日下午） - 议题涵盖等离子体质谱在高纯材料分析、未知有机物的质谱表征技术、纳米红外技术在半导体工业的应用等 [4] - 演讲嘉宾来自工业和信息化部电子第五研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国科学院上海有机化学研究所、布鲁克（北京）科技有限公司 [4] 半导体器件性能与可靠性评测技术（10月24日上午） - 议题包括第三代半导体失效分析中的检测技术、半导体材料及器件原子尺度构效关系研究、微振动环境模拟振动台研发与应用等 [5] - 演讲嘉宾来自北京软件产品质量检测检验中心、华中科技大学、中国电子工程设计院股份有限公司、大连理工大学、工业和信息化部电子第五研究所 [5] 半导体检测仪器国产化进程与技术创新（10月24日下午） - 议题聚焦国产集成电路材料检测设备技术、激光微纳加工与表征测试技术、扫描探针显微技术在存储器领域的应用 [5] - 演讲嘉宾来自上海集材汇智集成电路技术有限公司、中国科学技术大学、致真精密仪器（青岛）有限公司等企业 [5] 参会嘉宾背景 - 参会嘉宾为来自顶尖高校、科研院所及业内领先企业的教授、研究员、高级工程师及技术专家，例如武汉大学林乾乾教授、北京大学王涛高级工程师、福建鑫图光电有限公司半导体业务总监林静等 [6][7][8]