WAT 测试设备（ Wafer Acceptance Test Equipment ）是半导体制造流程中连接工艺开发与量产制造的关键电学 测试装备，主要用于对晶圆上专用测试结构（如电阻、电容、二极管、晶体管等）进行晶圆级电参数测量，以 评估制程一致性、稳定性及工艺平台是否满足既定电学规范。 WAT 测试并不直接面向最终芯片功能验证，而 是聚焦于工艺本身的电学健康度，是制程放行、工艺对比和产线监控的重要技术基础。 市场规模 根据 QYResearch 最新调研报告显示， 2024 年全球 WAT 测试设备市场规模达到 6.09 亿美 元，预计到 2031 年增长至 16.89 亿美元， 2025 年至 2031 年的年均复合增长率为 15.38% 。 市场占有率 根 据 QYResearch 头 部 企 业 研 究 中 心 调 研 ， 全 球 范 围 内 WAT 测 试 设 备 生 产 商 主 要 包 括 Keysight 、 Tektronix 、广立微等。 2024 年，全球前二大厂商占有大约 91.53% 的市场份 额。 从产业链结构看 ， WAT 测试设备高度依赖高精度电子测量与系统集成能力。其上游包括 ...