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广立微获得发明专利授权:“探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法”

专利授权 - 公司新获得一项发明专利授权,专利名为"探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法",专利申请号为CN202510517717 [1] - 专利涉及探针卡针尖状况检测方法,包括确定多个待测探针和探针垫,并在两个探针垫之间进行检测 [1] - 今年以来公司新获得专利授权46个,较去年同期增加84% [1] 研发投入 - 2024年公司在研发方面投入2.77亿元,同比增长33.49% [1] 公司资产与投资 - 公司共对外投资16家企业 [1] - 参与招投标项目45次 [1] - 拥有商标信息132条,专利信息228条,著作权信息91条 [1]