电源管理芯片(PMIC)和三代半导体(WBG)全流程测试方案

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“芯”动测试 | 电路与半导体前沿技术论坛—厦门站
半导体芯闻· 2025-06-17 18:05
行业趋势 - 数字化和电气化是推动高科技发展的两大核心方向,数字化体现在AIGC、新能源汽车和人型机器人等领域,电气化则以三代半导体(宽禁带半导体)为代表,推动能源、交通和工业向低碳高效发展 [4] - 数字化和电气化的协同效应正在重塑各行各业,同时也给工程师的产品设计和验证带来新的挑战 [4] 研讨会主题 - 研讨会将围绕数字化的核心高速串行传输和电气化的核心电源及半导体展开,旨在帮助工程师应对时代挑战 [4] - 会议日程包括电源完整性测试方案、电源管理芯片和三代半导体全流程测试方案、高速信号设计和测量、半导体物理参数表征和可靠性测试、热门高速总线测试方案以及电源测试工具等 [7] 会议详情 - 会议时间为2025年6月20日10:00-15:15,地点在厦门佰翔软件园酒店 [6] - 现场听众有机会参与抽奖活动 [6][8] 公司服务 - 公司提供专业的测量洞见信息,帮助提高绩效并将可能性转化为现实 [11] - 公司设计和制造测试测量解决方案,旨在突破复杂性壁垒,加快全局创新步伐,帮助各级工程师更便捷、快速和准确地实现技术进步 [11] - 提供1对1专属服务,可通过扫码添加工程师小助手获得 [12][13]