常温键合
搜索文档
常温键合,成破局关键
半导体行业观察· 2025-12-29 09:53
文章核心观点 - 以青禾晶元为代表的厂商,通过其已量产验证的“超高真空+表面活化+常温键合”完整解决方案,为半导体行业突破热敏感材料异质集成的瓶颈提供了可靠的技术路径,并已在多个前沿领域取得产业化成效 [1] 技术解析:常温键合工艺 - 技术核心是在常温环境下实现晶圆间高强度、高洁净的结合,流程分为两个关键步骤 [2] - 第一步是超高真空环境下的表面活化:在≤5E-6Pa的超高真空度下,通过粒子束轰击去除自然氧化层与污染物,实现晶圆表面的原子级洁净与活化 [3] - 第二步是常温下的精密对准与键合:在常温条件下,将活化晶圆精密对准并施加可控压力,促使表面原子间直接形成强化学键,实现无需加热的原子级结合 [4] 技术优势与特点 - 彻底避免热损伤:全程常温工艺,从根本上消除热应力对敏感结构与异质材料的影响 [6] - 获得超高界面质量:超高真空活化工艺保障界面洁净,可实现>2 J/m²的键合强度 [6] - 突破材料兼容性限制:已成功验证对Si、Ge、SiC、GaN、LiNbO₃、玻璃乃至金属等多种材料的直接键合能力 [11] - 具备量产级工艺可控性:全自动化操作,结合±1 μm级的对准精度与±1%的控压精度,保障了工艺一致性与高良率 [11] 应用实证:GeOI产业化 - 攻克GeOI产业化瓶颈:采用常温键合技术解决了锗材料热导率低、界面氧化层不稳定及成本高昂的问题 [10] - 热管理优化:避免了高温热应力,将锗薄膜直接键合于高阻硅衬底,实测散热效率提升40% [12] - 界面强度提升:在超高真空中活化去除自然氧化层,实现Ge/Si原子级直接键合,键合有效面积提升至95%以上 [12] - 成本显著降低:设备支持混线生产并集成回收模块,使8英寸GeOI衬底单片生产成本从200美元降至75美元 [12] 应用实证:5G SAW滤波器 - 实现SiC基铌酸锂薄膜异质集成:为满足5G/6G高频滤波器对高性能、低成本衬底的迫切需求 [13] - 性能突破:制备的SiC/LN复合衬底结合了SiC的高频散热优势和LN的高机电耦合特性,谐振器在5GHz下实现了 Qmax > 700,K² > 20% 的卓越性能 [18] - 解决热失配问题:常温工艺彻底避免了SiC(4.0×10⁻⁶/K)与LiNbO₃(15×10⁻⁶/K)的热膨胀系数差异带来的热失配问题 [18] - 产业进展:已实现6英寸晶圆规模化制备,良率稳定在95%以上,为5G N77/N78等频段提供了高性能、高可靠性的滤波器解决方案 [18] 行业意义与发展前景 - 该技术已成为一种可复用的平台化解决方案,能够针对不同材料体系的特性解决其异质集成中的核心痛点 [14] - 技术应用范围广泛:不仅适用于第三代半导体的异质集成,也为MEMS、先进封装、光电集成等领域提供了新的工艺选项 [14] - 战略价值凸显:随着异质集成与系统级封装需求增长,能够彻底避免热影响的键合技术其战略价值将日益凸显 [14] - 产业化前景:行业观察认为,该类技术若能持续提升效率、扩大衬底尺寸适配能力并进一步降低成本,将在未来3-5年内进入更广泛的产业化应用阶段 [14]