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针对封装内存储器的直接测试专利
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美光科技取得针对封装内存储器的直接测试专利
金融界
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2026-01-13 16:09
美光科技新获中国专利授权 - 美光科技在中国取得一项名为“针对封装内存储器的直接测试”的专利 [1] - 该专利的授权公告号为CN113921073B [1] - 专利的申请日期为2021年6月 [1]
Micron Technology(US:MU)
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针对封装内存储器的直接测试专利
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