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AI缺陷检测方案
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一份报告破解产业瓶颈 专利导航引领TCL凭“智慧方案”省亿元级成本
中国质量新闻网· 2025-11-04 12:47
核心观点 - 武汉TCL工研院在武汉知识产权保护中心发布的《智能制造领域AI大模型专利导航》报告指引下,攻克了半导体显示领域的关键技术难题,实现了显著的成本节约和生产效率提升 [1][2] 技术突破与专利布局 - 公司聚焦强推理垂域模型与AI缺陷检测技术两大核心方向,累计布局13件高价值专利,形成覆盖算法、架构、应用的立体化专利矩阵 [1] - 其中7件专利支撑新一代强推理垂域模型研发,6件专利构建AI高精度工业质检方案 [1] - 凭借这些创新成果,公司先后获得第四届湖北省高价值专利大赛银奖、第一届长江经济带高价值专利转化运用大赛优秀奖 [1] 生产效能提升 - AI缺陷检测方案已全面应用于华星光电9个显示面板工厂,缺陷检测准确率提升至95%以上 [2] - 单批次检测时间从48分钟压缩至9分钟,实现7×24小时无人化生产 [2] - 系统替代90%人工质检岗位,人员效率提升95%,累计节约人力成本超1亿元 [2] - 产品良品率攀升至98%的行业峰值,生产效率激增7倍 [2] 产业协同与创新 - 在专利导航牵引下,公司联合国家新型显示技术创新中心、TCL华星等攻关核心技术,于今年6月发布全球显示领域首款强推理垂域模型"星智X-Intelligence 3.0" [2] - 该模型已应用于TCL华星全系产品线,并通过开放平台赋能上下游企业 [2]