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ESD测试与失效路径验证
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失效分析,如何助力芯片研发和良率提升?
半导体行业观察· 2026-03-12 09:39
赛默飞2026年半导体解决方案研讨会信息 - 赛默飞计划于2026年3月24日在上海举办半导体解决方案研讨会,会议形式为线上线下同步进行,地点位于上海市浦东新区张江高科技园区的赛默飞客户体验中心 [2][3] - 会议旨在结合真实应用案例,系统探讨半导体制造在迈向更高良率与更强可靠性阶段的问题定位路径与可落地的技术方案 [2] - 会议全程免费,线上参会者累计观看时长超过80分钟可获得精美礼品 [6] 会议核心议题与日程安排 - 会议核心议题涵盖物性与电性失效分析技术、ESD测试与失效路径验证、多维度协同分析方法以及AI时代下的半导体分析解决方案 [4] - 会议日程包括赛默飞最新一体化球差TEM介绍、次时代聚焦离子束系统介绍、AI时代EFA & CTS最新解决方案介绍以及多款设备的现场演示,如Helios 5 Hydra、Helios 6 HD和ELITE [6][7] - 会议日程中安排有题为“Semiconductor Ecosystem: A virtuous cycle enabling a virtuous cycle in the sciences”的环节,演讲者来自NVIDIA [7]