测试装置及测试方法

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中芯国际申请测试装置及测试方法专利,提高对 IGBT 晶圆的测试效率
搜狐财经· 2025-05-14 11:54
专利技术 - 中芯国际旗下天津、北京、上海三家公司联合申请名为"测试装置及测试方法"的专利,公开号CN119959588A,申请日期为2023年11月 [1] - 专利技术涉及IGBT晶圆测试装置,包含卡盘、接地模块和绝缘探针卡,可直接进行晶圆级测试 [1] - 该技术能提高测试效率,减少泄露电流概率,提升测试准确度和IGBT晶圆可靠性 [1] 公司背景 - 中芯国际天津公司成立于2003年,注册资本12.9亿美元,拥有385项专利、287个行政许可,参与104次招投标 [2] - 中芯北方北京公司成立于2013年,注册资本48亿美元,拥有133项专利、450个行政许可,参与45次招投标 [2] - 中芯国际上海公司成立于2000年,注册资本24.4亿美元,拥有5000项专利、443个行政许可,参与127次招投标并对外投资4家企业 [2] 行业动态 - 三家中芯国际子公司均专注于计算机、通信及电子设备制造领域 [2] - 专利技术聚焦半导体制造中的IGBT测试环节,反映公司在功率半导体领域的研发投入 [1]