磁阻随机存取存储器(MRAM)
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MRAM,台积电(TSM.US)重大突破
智通财经网· 2025-10-18 09:09
存储技术变革背景 - 人工智能、自动驾驶、物联网等新兴应用对存储器的速度、能耗与稳定性提出更高要求,传统存储体系面临多重挑战 [1] - 传统基于电荷存储的技术(如SRAM、DRAM、闪存)在技术节点突破10纳米后,面临可扩展性受限、性能提升困难、可靠性下降等严峻挑战 [2] - 新型非易失性存储技术需兼具DRAM的高速响应能力和闪存的非易失性特征,同时大幅降低功耗 [2] SOT-MRAM技术优势 - SOT-MRAM利用自旋轨道力矩效应实现数据写入与擦除,具备高速写入、高能效和高可靠性三大核心优势 [3][4][5] - 切换速度达到1纳秒级别,几乎可与SRAM媲美,同时保留非易失性优势,数据保持时间可超过10年 [2][13][14] - 三端结构设计将读写电流路径完全分离,解决了耐久性问题和磁性隧道结电阻限制,显著降低能耗 [4][14] - 隧穿磁阻比高达146%,表明MgO与Co₄₀Fe₄₀B₂₀之间形成高质量界面,提供稳定读取裕量 [1][14] 关键技术突破 - 研究团队通过插入超薄钴层形成复合结构,成功解决β相钨材料在半导体制造热处理条件下的相变难题 [7][9] - 复合钨结构可在400°C下维持物相稳定长达10小时,甚至耐受700°C高温30分钟,而传统单层钨在400°C下仅10分钟即发生相变 [9] - 该结构自旋霍尔电导率约为4500 Ω⁻¹·cm⁻¹,阻尼类扭矩效率约0.61,确保了高效的磁化翻转性能 [9] 性能验证与产业化进展 - 成功制备出64千位SOT-MRAM原型阵列,在1纳秒切换时间下的临界电流密度为48.0兆安/平方厘米,在10纳秒下为34.1兆安/平方厘米 [13] - 器件热稳定性参数Δ约为116,数据保持能力出色,可满足非易失性存储的严格要求 [14] - 设计已考虑与现有半导体后端工艺的兼容性,为大规模量产铺平道路,并计划进一步扩展至兆比特级集成 [14][15] 行业应用前景 - SOT-MRAM有望替代高速缓存级别的SRAM,成为AI加速器的片上缓存,显著降低系统能耗 [6][15] - 其非易失性特性对电池供电的物联网终端尤为有利,设备可快速启停而不丢失数据 [15] - 或将推动传统“SRAM缓存—DRAM主存—闪存外存”三级架构的重构,简化系统架构并提升效率 [15] - 为“存算一体”等新型计算架构提供可行性,有助于突破传统冯·诺依曼结构的“存储墙”瓶颈 [16]
东大验证新磁材,助力高速AI和长续航手机
日经中文网· 2025-06-11 09:03
第三类磁性材料的突破性发现 - 东京大学关真一郎团队证实第三类磁性材料(交替磁性材料)可实现数字信息"0"和"1"的读写,读写速度比传统磁体内存快100倍以上,存储体积可压缩至1/100 [1][3] - 该材料在室温下工作且具备非易失性,断电后数据仍可保存,由铁和硫磺等丰富元素构成,成本优势显著 [1][3][5] - 第三类磁性材料为约100年来首次发现,其微观磁极排列方式独特,被美国《科学》杂志列为2024年十大科学新闻 [3] 技术优势与市场潜力 - 交替磁性MRAM理论集成密度可达传统MRAM的100倍,读写速度从纳秒级跃升至皮秒级,有望比肩DRAM/SRAM性能 [5] - 现有MRAM因铁磁性材料磁极干扰导致容量受限,而交替磁性材料可高密度排列且无干扰 [5] - 全球MRAM市场规模预计从2024年20亿美元增至2029年226亿美元(CAGR约62%),节能特性驱动需求 [5] 应用场景与产业影响 - 高性能交替磁性存储器可加速AI运算并延长智能手机续航,韩国和中国在相关领域研究成果突出 [6] - 该材料适用于智能手机闪存,理论擦写次数无限且成本低,可能替代现有闪存技术 [6] - 目前实验阶段已制备3毫米见方晶体,薄膜制备研究推进中,元件结构与现有MRAM兼容利于快速产业化 [3][6]